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“设计变更”战略奏效,消息称三星1c DRAM良率提升至70%

Andy 2025-06-04 15:24

据韩媒报道,三星采取的「设计变更」战略奏效,5月其10nm级第六代DRAM(1c DRAM)的晶圆效能测试中,达成有意义的良率,即冷态环境下测试良率约50%,热态条件下测试良率达60~70%。

产能方面,近期有报道称,三星电子已制定计划在韩国华城工厂建设1c DRAM(第六代10纳米级)生产线,预计该项投资最早将于今年年底完成。此前,三星电子在平泽第四园区(P4)建设第一条1c DRAM量产线,规划产能为每月3万片。

1c DRAM是三星电子计划在今年下半年量产的产品,且计划将搭载在HBM4上,在下一代存储器业务中具有非常重要的意义。

消息称,为加速1c DRAM的商业化进程,三星采取了将DDR与LPDDR同步开发的策略。通常,DRAM的开发顺序是DDR、LPDDR、GDDR,然后再应用于HBM。三星电子正尝试通过创新来打破这一传统。三星计划在今年年中取得LPDDR用1c DRAM的内部量产批准(PRA),并在第三季度取得针对HBM重新设计的DDR的内部量产批准(PRA)。

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