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如何从美光NAND Flash编码分辨品质

AVA 2019-01-03 16:23

美光NAND Flash编码解读:

AA:无读ID功能
AC:无缓存功能
AW:无写保护功能
AL:通过低端SSD/USB闪存盘/SD卡测试
AF:通过低端USB闪存盘/SD卡测试
AS:通过SSD测试
AR:降低速度要求通过测试
AT:一次性编程
HP:容量减半
ES:工程样片
S2:第一次测试未通过
S3:第二次测试未通过,第三次测试通过
S5:部分通过测试,预计测试通过部分占50%
S7:部分通过测试,预计测试通过部分占70%
S8:部分通过测试,预计测试通过部分占80%
S9:部分通过测试,预计测试通过部分占90%
SG:简单测试通过,扩展测试不通过
SS:简单测试不通过

 

 

 

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