近日，爱德万测试发表最新多功能、高产能H5620内存测试机，可针对DRAM和LPDDR产品进行预烧及内存单元测试。

爱德万指出，5G技术时代来临，全球DRAM消耗预估将在2023年近乎翻倍，而此波需求成长背后的主要推手，正是持续成长的数据处理和移动通讯市场，不仅数据中心要求更多内存，智能手机分辨率升级、新增折迭功能和多镜头设计等也是缘由。

爱德万最新推出的最新测试系统H5620可缩减测试成本，提高测试效率。在生产环境中，能以100-MHz频率和高达200Mbps的数据传输率，平行测试超过1.8万个组件。

此外，H5620能因应工厂自动化需求，并具备个别热控制稳定度的双温箱结构，支持从-10°C到150°C大温度范围测试。

不仅如此，新系统结合原有内存单元测试与内存生产设备的预烧测试流程，不仅有助客户降低资本支出，也能节省工厂空间。